IEEE 1481-2009 集成电路(IC)开放性库结构(OLA)
时间:2024-05-19 13:36:37 来源: 标准资料网 作者：标准资料网 阅读：8971
【英文标准名称】:IntegratedCircuit(IC)OpenLibraryArchitecture(OLA)
【原文标准名称】:集成电路(IC)开放性库结构(OLA)
【标准号】:IEEE1481-2009
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2009
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国电气电子工程师学会(US-IEEE)
【起草单位】:IEEE
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:体系机构;计算机控制;定义;延迟电路;延迟时间;电气工程;集成电路工艺;集成电路;集成存储器电路;半导体器件;规范
【英文主题词】:Architecture(IT);Computerizedcontrol;Definitions;Delaycircuits;Delaytime;Electricalengineering;Integratedcircuittechnology;Integratedcircuits;Integratedmemorycircuits;Semiconductordevices;Specification
【摘要】:
【中国标准分类号】:L56
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:658P;A4
【正文语种】:英语
【英文标准名称】:
【原文标准名称】:裂变燃料存贮过程中的核临界安全性指南
【标准号】:ANSI/ANS8.7-1975
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1975
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(US-ANSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:
【国际标准分类号】:
【页数】:
【正文语种】:英语
【英文标准名称】:StandardTestMethodforChippingResistanceofCoatings
【原文标准名称】:覆层耐切割的标准试验方法
【标准号】:ASTMD3170-2003
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2003
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验;检验;覆层;耐力;涂漆;涂料
【英文主题词】:painting;resistance;coatings;paints;testing;inspection
【摘要】:
【中国标准分类号】:A29
【国际标准分类号】:87_040
【页数】:7P;A4
【正文语种】:英语